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◆18-01 200 kVクライオ電子顕微鏡での高分解能構造解析の考察

物構研談話会
  • 日時:071/24(Tue.)16:00~17:00
  • 場所:研究本館会議室
  • 講師:重松 秀樹 氏(理化学研究所 放射光科学研究センター・生物系ビームライン基盤G)
  • 題名:200 kVクライオ電子顕微鏡での高分解能構造解析の考察。
  • 英題:A Study on High-Resolution CryoEM Single Particle Analysis with 200 kV Microscope
  • 要旨:日本国内でクライオ電子顕微鏡ネットワークの運用が始まり、ハイエンド 300 kVの共用に向けて200 kV電顕を使った試料の最適化が重要になっている。今回は、昨年得られた高分解能データをもとに、3 Aを超える分解能を得た解析結果について考察する。