講演会

日時: 2008-11-27 09:30 - 17:00
場所: 4号館2階輪講室1
会議名: 先端研究施設共用イノベーション創出事業(産業戦略利用)講習会「放射光を用いた結晶評価の新展開 〜X線トポグラフィーによる半導体評価を中心として〜」
講演言語: 日本語
URL: http://pfwww.kek.jp/pf-seminar/innov_topo.html
アブストラクト: 放射光は各種結晶材料の内部構造や表面・界面構造を評価する上で大変有効なプローブです。近年、放射光を用いた回折イメージング分野(トポグラフィー等)の研究は、次世代半導体やパワーデバイス材料などの研究の進展により、新たな高まりを見せています。この放射光利用の結晶材料・デバイス評価と産業応用の最新の状況を、当該分野の第一線で活躍している講師の方々にご紹介いただき、また、今後の展望について語っていただきます。  講習会として、すでにこの分野の研究を経験されている人はもちろん、これから新たに放射光を利用しようと考えている人にも有益なガイダンスとなるよう、プログラムを用意しました。また、講義の後は、放射光利用実験の実際について見学(場合によって実習も)していただく予定です。

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