| アブストラクト: |
気化学反応（固液界面における電子移動反応）を厳密に理解し燃料電池やバイオセンサといった現在注目されているナノテクノロジーへと応用・展開していくためには、原子レベルの高い分解能で界面の構造を知る必要があるが、超高真空下と異なりこれまで電気化学界面（電極／溶液界面）においては溶液層の存在によりその場構造解析は困難とされてきた。放射光を利用した表面Ｘ線技術は、その困難さを克服し界面の詳細な三次元構造を知る数少ない手法のうちの１つであるが、その利用は限られており、特に国内で本手法を用いているグループは少ないのが現状である。そこで、放射光利用Ｘ線技術の有用性を広く示し、データの解析から試料の前処理／電気化学セルの形状など測定条件の詳細まで情報を交換し、放射光利用Ｘ線技術による固／液界面のその場構造解析の発展に寄与する事を目的とし、本研究会を提案した。
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