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固体、ソフトマターから生物にいたる種々の物質において、ナノ構造は未開拓の領域であり、あらゆる材料科学・技術分野の物質機能の解明や新素材の創成と深く結びついている。特に近年のMEMS(micro electro mechanical systems)やNEMS(nano electro mechanical systems)技術、ナノバイオセンシング技術、界面分子・原子制御技術などの展開は目覚ましく、精密・迅速なナノ構造評価の重要性はますます高まり、その需要は物質基礎科学から産業応用まで広く及んでいる。
PFにおけるX線小角散乱測定は、生命・材料を対象とした基礎研究から応用研究までナノ構造のキャラクタリゼーションに関して、四半世紀の長きにわたって世界的にも極めて重要かつ先進的な役割をはたしてきた。しかし、その間、SAXS-WAXS同時測定、GI-SAXS測定、SAXSと各種同時測定など個別的な技術開発や創意工夫による研究が展開されてきたが、残念ながら根本的な光学系や周辺装置の改良・整備は十分になされてきたとは言えず、そのため、現在のナノ構造解析の科学的・社会的需要に応え得る装置等の改善・一新を行うことが急務となっている。
研究会では、物質基礎科学から産業応用まで広く及んでいるナノ構造評価の重要性、需要の現状を共通の認識として、研究のターゲット、測定の高度化などに関して、今後のPFのX線小角散乱の利用と展開を展望する。
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