| 日時: |
2011-09-13 - 2011-09-14 |
| 場所: |
研究本館小林ホール |
| 会議名: |
PF研究会「軟X線分光・散乱測定を用いた物性研究の現状と展望」 |
| 講演言語: |
日本語 |
| URL: |
http://pfwww.kek.jp/pf-sec/PF-kenkyukai/softxray/program.html |
| アブストラクト: |
軟X線放射光による散乱・分光学的研究手法が世界的な進展を見せていることで、手法の物性研究への適用拡大と理論による情報解析が急務となっている。PFでの軟X線放射光設備の有効利用を目指し、強相関電子系、分子性物質、ナノマテリアル等の物性研究における軟X線偏光分光学・散乱の実験研究と理論研究に関する提案と議論を行う。そして、提案を具体化する挿入光源・光学系や測定利用機器の改善・拡充をユーザーと共に検討・議論する場を提供する。
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