| アブストラクト: |
ここ数年、シリコン表面における有機分子の吸着について、実験室的方法（STMやHREELS）および放射光分光を併用して研究を行ってきた。これまでの研究をレビューした後、エチレンで終端したSi(100)表面にF4-TCNQを吸着させ、表面ドーピングを試みた最近の研究について紹介する。実験室におけるUPSにより、F4-TCNQが直接エチレン終端面に吸着しているとき、表面からF4-TCNQに電荷移動が起り、仕事関数が最大2eV増えることが分かった。最後に、今後、放射光を用いた研究によって、これらの有機材料の物性研究をどのように発展させていけるのか、その可能性を議論したい。
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