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KEK
高エネルギー加速器研究機構
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KEK IMSS 放射光科学研究施設
SBRC
構造生物学研究センター
KEK User Information
共同利用者支援システム

スナップショット(評価用回折像)測定

スナップショットの撮り方1:Snapshot

  1. Centerタブ内の下側がSnapshotモードになっていることを確認する。
    初期状態ではSnapshotになっています。

  2. 測定条件を入力する。

  3. [Start]ボタンをクリックする。
    スナップショットを撮る前に[Advanced ...]ボタンをクリックすることで、更に詳細な条件を設定できます。


スナップショットの撮り方2:Diffraction scan

  1. Centerタブ内の下側Diffraction scanタブをクリックし、Diffraction scanモードに切り替える。

  2. センタリング画面で測定位置を登録し、測定条件を入力する。

  3. [Start]ボタンをクリックする。
    スナップショットを撮る前に[Advanced ...]ボタンをクリックすることで、更に詳細な条件を設定できます。

  4. ヒートマップが表示される。
    Diffraction scan後、結晶画像の上に回折点の数に応じたヒートマップが表示されます。

  5. 選択した位置の画像を表示させる。
    センタリング画面のポジション番号を右クリックすると、[Viewer]→[ポジション番号]が表示されます。 この番号をクリックすることで、画像ビューワの表示画像が更新されます。


  • 測定位置の登録方法
    Diffraction scanでは3通りの測定位置の登録方法があります。 Viewセクション内のチェックを外すことで非表示にすることも可能です。

  1. 測定位置を任意で登録する
    Freeにチェックを入れ、センタリング画面上を右クリックし、Addをクリックします。
    画面上を右クリック
    測定位置が登録される

  2. 測定位置を直線状に登録する
    Lineにチェックを入れ、センタリング画面上を右ドラッグし(緑色の線が表示される)、はなした時に表示されるAddをクリックします。 直線に沿って測定位置が登録されます。
    画面上を右ドラッグし、はなす
    長さに応じた測定位置が登録される

  3. 測定位置を格子状に登録する
    Gridにチェックを入れ、センタリング画面上を右ドラッグし(緑色の枠が表示される)、はなした時に表示されるAddをクリックします。 格子状に測定位置が登録されます。縦長の格子とすると、測定番号は縦に割り振られます。
    画面上を右ドラッグし、はなす
    枠の大きさに応じた測定位置が登録される

  • 測定位置を消去する
    次のサンプルの測定前や、格子状に位置登録後、特定の位置にビームを当てずに測定する場合、以下の手順で測定位置の消去を行ってください。
    ひとつだけ消去する:Position Editorセクション内のプルダウンメニューから消去したい測定位置を選び、[Delete selected]ボタンをクリックする。
    全て消去する[Delete all]ボタンをクリックしてください。

  • Diffraction scanにおけるステップをビームサイズ以外にする
    Diffraction scanのステップの倍率を変更することで、重なりながら、またはある間隔を空けてビームを当てることができるようになりました。 ビームサイズは変わりませんのでご注意ください。

    デフォルトでは×1.00(等倍)となっております。任意の数を入力することも可能です。
    Scan Step:×2
    Scan Step:×3


各パラメータについて

  • >Osc. width (deg.)<:振動角 (0°は指定不可)

  • >Exposure Time (sec.)<:露光時間

  • >Max. resolution(Å)<:測定可能な最大分解能
    現在の入射X線エネルギーとカメラのHeight(オフセット)からカメラ距離が調整されます。

  • > Wavelength<:入射X線の波長

  • >Beam Size<:サンプル直前のスリットの幅(BL-1A変更不可)
    スクロールバーを動かす、プルダウンメニューから選択する、テキスト欄へ直接入力するなど、いずれかの動作で変更できます。
    ビームサイズはほぼスリットのサイズに等しいので、センタリング画面上の紫色の四角形がビームサイズとなります。

  • >Transmittance<:入射X線の透過率
    波長から最適なアテネータ(Al)の厚みを計算し、入力された透過率に最も近くなるアテネータがセットされます。 また、使用されるアテネータの厚みが表示されます。

  • [Default]ボタンを押すことで、Osc. widthExposure TimeBeam Sizeの値をデフォルト値に戻します。 それぞれのデフォルト値はビームラインによって異なりますのでご注意ください。



Snapshot
Diffraction scan
  • >Flie Name<
    Prefix、Run番号、ファイル番号で構成されていて、Prefixには半角70字までの文字が入力可能です。 Diffraction scanの場合、Prefix、Run番号、ファイル(ポジション)番号で構成されます。 Prefixにアンダースコア(_)を用いることは、一部データ処理ソフトではRun番号を正しく認識できない場合がありますので推奨いたしません。 [Reset]ボタンを押すことでRun番号を1に、ファイル番号を00001に戻します。 ファイルは Working Directory 下の Snap または Scan ディレクトリ内に保存されます。 保存ディレクトリ名および Prefixの既定値は、メニューバーの [Special]-[Files/Directories name] で変更可能です。



  • >Omega<  (Snapshotのみ)
    複数の角度をコンマで区切った指定(0, 90など)や、0 - 360°に限らない任意の絶対角度の指定が可能です。 代表的な測定パターンはプルダウンメニューから選択できます。 また、"Current" というキーワードは"現在の角度"を表しており、"Current+90"なら現在の角度+90°を意味します。


参考:Snapshot And Collect Advanceについて

 CENTERタブやCOLLECTタブ内にある[Advanced ...]ボタンを押すと、さらに詳細な設定が可能となります。




  • >Detector position<
    1. Distance
      サンプル - 検出器間の距離
    2. Height
      検出器の高さのオフセット値



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