| 日時: |
2013-08-09 13:30 - 15:00 |
| 場所: |
Meeting room 345 in 3rd floor, bldg. 3 |
| 会議名: |
測定データの解析に対する画像処理技術の適用可能性 |
| 連絡先: |
junji.haba_at_kek.jp |
| 講演者: |
前川 秀正氏他２名 (みずほ情報総研株式会社) |
| 講演言語: |
日本語 |
| URL: |
http://rd.kek.jp/seminar_01.html |
| アブストラクト: |
測定器から得られるデータの解析に対する画像処理技術の適用事例として、
PET画像再構成の高速化や超伝導加速空洞内部の欠陥検出について、
関連事例等を含めながら紹介します。
併せて、当該分野への適用が期待できる超解像や領域分割等の画像処理
技術についても同様に関連事例をあげながら紹介します。
最後に、測定器開発分野をはじめとした専門家の方々と測定データの解析
に対する画像処理技術の適用可能性について議論したいと思います。 |
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