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Seminar

プローブを用いない弱値の直接測定法 (in Japanese)

  • SPEAKER: 小川和久 Dr. Kazuhisa Ogawa
    (北海道大学 Hokkaido Univ. )
  • DATE: July 12 (Fri) 15:00-16:00
  • PLACE: 研究本館3Fセミナールーム Kenkyu Honkan 3F Seminar Room

事前・事後選択されたシステム(事前・事後選択系)における弱い値は、典型的には弱測定によって測定され、そこではプローブ系は被測定系と弱い相互作用をする。しかし弱測定では、プローブ系として被測定系の他に追加の自由度を準備する必要性があるため、弱値測定のための実験系は一般に複雑になる。本研究では、事前・事後選択系がほとんど乱されないという従来の弱測定が持つ条件を保ちながら、プローブを用いずに弱値を直接測定する方法を提案する。この方法では、事前選択と事後選択の間に小さな変換が与えた時に、選択後の確率振幅の変化に小さな変換の微分の弱値が現れる。この方法は基本的に弱値を測定する全ての実験に適用することができ、弱値測定のための実験系を単純化することができる。