#01 Multiscale and multimodal structure analysis with quantum beams and informatics

ミクロからマクロスケールに至る物質・材料の階層的な不均一構造を誰でも簡単かつ定量的に計測・解析し知識とすることを可能にする、革新的なマルチスケール・マルチモーダル構造解析システム（CaaS : Characterization as a Service） を実現します。

実現を目指すこと

• 最適な計測条件を自動で策定する方法論の確立：適応型実験デザイン法
• シグナル・ノイズ比の低い計測データからの情報抽出：ハイスループット計測
• 計測データ解析の自動化：機械学習による多目的最適化
• マルチスケール・マルチモーダル計測データからの情報抽出及び知識獲得：モダリティ変換

研究の特徴

• 個別の計測データの単なる解析ではなく、広い意味で量子ビーム計測そのものと情報科学(AI技術)を融合
• 複数の異なる計測手法のデータを情報科学により統合し、研究を総合的・多面的に進めるために必要な情報・知識として抽出、データベース化

Main members (IMSS, KEK)

ONO, Kanta / TAKEICHI, Yasuo / HAWAI, Takafumi / SAITO, Kotaro / OTOMO, Toshiya / YOKOO, Tetsuya / ITOH, Shinichi / YAMADA, Norifumi / KUMAI, Reiji / KIMURA, Masao / SUZUKI, Yuta

Collaborative members

UENO (QST)
KAMIYAMA, SATO (Hokkaido Univ.)
OTAKE, TAKETANI, TAKANASHI (RIKEN)
KIYANAGI, WATANABE (Nagoya University)
WATANABE, TAKEDA (Aichi Synchrotron Radiation Center)
YANO，SHOJI (Toyota Motor Corporation)
HINO (The Institute of Statistical Mathematics)
USHIKU，TANIAI (OMRON SINIC X Corporation)
ONISHI (AIST)
MORITA, ASAHARA, KANAZAWA (HITACHI)
HITOSUGI (Tokyo Institute of Technology)
CHIKYOW (NIMS)
kuraray, Obayashi Corporation, Sumitomo Rubber Industries

Main techniques

X線・中性子回折， X線・中性子小角散乱， X線・中性子反射率，X線吸収分光，走査型透過X線顕微鏡，中性子非弾性散乱，電子顕微鏡