Project Leader: ONO, Kanta
ミクロからマクロスケールに至る物質・材料の階層的な不均一構造を誰でも簡単かつ定量的に計測・解析し知識とすることを可能にする、革新的なマルチスケール・マルチモーダル構造解析システム（CaaS : Characterization as a Service） を実現します。
実現を目指すこと
- 最適な計測条件を自動で策定する方法論の確立：適応型実験デザイン法
- シグナル・ノイズ比の低い計測データからの情報抽出：ハイスループット計測
- 計測データ解析の自動化：機械学習による多目的最適化
- マルチスケール・マルチモーダル計測データからの情報抽出及び知識獲得：モダリティ変換
研究の特徴
- 個別の計測データの単なる解析ではなく、広い意味で量子ビーム計測そのものと情報科学(AI技術)を融合
- 複数の異なる計測手法のデータを情報科学により統合し、研究を総合的・多面的に進めるために必要な情報・知識として抽出、データベース化
Main members (IMSS, KEK)
ONO, Kanta / TAKEICHI, Yasuo / HAWAI, Takafumi / SAITO, Kotaro / YAMADA, Norifumi
Collaborative members
UENO (QST)
Main techniques
X線・中性子回折， X線・中性子小角散乱， X線・中性子反射率，X線吸収分光，走査型透過X線顕微鏡，中性子非弾性散乱，電子顕微鏡
