"Field-Induced Criticality in YbCu₄Au", T. Taniguchi, K. Osato, H. Okabe, T. Kitazawa, M. Kawamata, S. Hashimoto, Y. Ikeda, Y. Nambu, D. P. Sari, I. Watanabe, J. G. Nakamura, A. Koda, J. Gouchi, Y. Uwatoko , S. Kittaka, T. Sakakibara, M. Mizumaki, N. Kawamura, T. Yamanaka, K. Hiraki, T. Sasaki, and M. Fujita, J. Phys. Soc. Jpn. 93 (2024) 124706(1-8).