五十嵐教之准教授の論文が AIP Conference Proceedings 誌に掲載されました。

Test results of a counting type SOI device for a new x-ray area detector.
R. Hashimoto, Y. Arai, N. Igarashi, R. Kumai, T. Miyoshi and S. Kishimoto
AIP Conf. Proc. 1741, 040031 (2016).