| 課題番号 | 課題名 | 主たる実施者 |
|---|---|---|
| 2008I001 | XAFS 法によるBaTiO3 セラミックス中の添加物の局所構造解析 | 京セラ(株) |
| 2008I002 | LSI キャパシター絶縁膜の結晶化過程の観察 | 東京エレクトロン(株) |
| 2008I003 | XAFS による高性能M 型フェライトの金属イオンのサイト分布解析 | 日立金属(株) |
| 2008I004 | XAFS によるCu-Mo 触媒の活性発現機構の研究 | 花王(株) |
| 2008I005 | X線トポグラフィ法による化合物半導体結晶の微細構造解析 | (株)三菱化学 |
| 2008I006 | ナノ構造多層膜の元素変換反応におけるCa 添加効果のXAFS 解析 | 三菱重工(株) |
| 2008I007 | チーグラー・ナッタ触媒の構造解明 | 東邦チタニウム(株) |
