課題番号 | 課題名 | 主たる実施者 |
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2013I001 | 各種媒体中に内在する極小RFID識別装置の高解像度立体画像撮影 | スターエンジニアリング(株) |
2013I002 | DXAFSを利用した排ガス浄化用貴金属触媒の反応メカニズム解析 | (株)住化分析センター |
2013I003 | EXAFSによる多層膜中のIn-Ga-Zn-O系半導体の局所構造解析 | 凸版印刷(株) |
2013I005 | 毛髪中成分元素の局所構造解析 | サンスター(株) |
2013I006 | 酸化物へ固溶した希土類元素の存在状態解析 | 住友大阪セメント(株) |
2013I007 | リチウムイオン二次電池用正極材料のin situ XAFS測定 | 旭硝子(株) |
2013I009 | 軟X線蛍光XAFSを用いたGaN中Mgドーパントの局所構造解析 | 日亜化学工業(株) |
2013I010 | 自己集積材料のGI-SAXSによる構造確認および深さ方向分析 | 日産化学工業(株) |
2013I011 | 溶液中におけるジルコノセン重合触媒の構造解析 | 出光興産(株) |