| 課題番号 | 課題名 | 主たる実施者 |
|---|
| 2014I001 |
Ｘ線ＣＴ法による錠剤成分の結晶多形及び空隙分布の評価 |
エーザイ(株) |
| 2014I002 |
高温KOH・NaOH 蒸気エッチングを用いたSiC 結晶貫通転位検出・分類技術のX 線トポグラフィー検証及びSiC表面潜傷の評価 |
(一財)ファインセラミックスセンター |
| 2014I003 |
小角X線散乱法による金属含有ナノ粒子水溶液の評価 |
新日鐵住金(株) |
| 2014I004 |
放射光施設におけるタルボ干渉計用回折格子の性能評価手法の研究 |
(株)ASICON |
| 2014I005 |
公開延期 |
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| 2014I006 |
プリンテッドエレクトロニクスのための有機半導体材料の結晶構造解析 |
日本化薬(株) |
| 2014I007 |
X線小角散乱法によるブロック共重合体の構造解析 |
NTT(株) |
| 2014I008 |
新規EUV光学素子の特性評価 |
NTTアドバンステクノロジ(株) |
| 2014I009 |
鉄鋼プロセス原料の三次元組織のCT観察 |
新日鐵住金(株) |
| 2014I010 |
GaN系半導体の電子状態のARPESによる評価 |
日亜化学工業(株) |
| 2014I011 |
XAFSを用いた鉄鋼原料の反応過程の観察 |
日鉄住金テクノロジー(株) |
| 2014I012 |
X線トポグラフィーによるSiC単結晶ウエハにおける加工由来の表面欠陥の評価 |
山口精研工業(株) |
