BL-14A：単結晶構造解析／検出器開発ステーション

ビームライン群	第２分科（回折・散乱）
主な手法	X線回折波高分光・エネルギー走査や時間分光による検出器実験
特徴	垂直ウィグラーからの縦偏光X線を利用して、垂直（ω-2θ）回転軸の水平型四軸X線回折計による精密電子密度分布測定が可能。 30～80keVの高エネルギーX線領域や19keVまでの集光X線ビームを利用するX線検出器の特性評価と開発研究を実施。
主な研究分野	四軸X線回折計とAPD検出器・多重回折回避ソフトウェアによる無機結晶などの精密構造解析 X線天文学・放射光実験などのためのX線検出器の評価および開発
担当者	佐賀山基 hajime.sagayama★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	ハイブリッドモード運転によるパルスX線時間構造を利用する研究が可能。希望する場合は、課題申請時にその旨を記載してください。

光源	垂直ウィグラー
光学系	二結晶モノクロメータ（Si(111)、(311)、(553)切替）集光ミラー（円筒湾曲1m・Rhコート：Si(111)選択時。集光固定で運用）
エネルギー範囲	Si111 ： 5.1-18.5 keV Si311 ： 9.9-35.4 keV Si553 ： 23.0-82.7 keV
エネルギー分解能（ΔE/E）	〜2 × 10^-4 (Si111)
ビームサイズ	(H) 2ｘ (V) 1 mm以下（ミラー使用時） (H) 5ｘ (V) 35 mm（max.）
ビーム強度	1 × 10¹¹ photons/s・mm² (Si111+ミラー, max.)
公開している装置	水平型4軸X線回折計および8ch積層型APD検出器検出器実験用自動ステージ等、光学部品各種
検出器	8チャンネル積層型(45°配置)APD検出器
リモート／メールイン測定	不可
特記事項	検出器開発実験時の装置設置は回折計架台上の光学ベンチ（長さ50cm）上、または回折計架台下流の床上（ビーム軸方向：～1m）で行う。

Y. Satow and Y. Iitaka, Rev. Sci Instrum., 60, 2390 (1989), doi:10.1063/1.1140728 : ビームライン
S. Kishimoto, N. Ishizawa and T. P. Vaalsta, Rev. Sci Instrum., 68, 384 (1998), doi:10.1063/1.1148670 : APD検出器
T. Sakakura et al., Determination of the Local Structure of a Cage with an Oxygen Ion in Ca₁₂Al₁₄O₃₃., Acta Cryst., B67, 193 (2011), doi:10.1107/S0108768111005179 : 回折計実験の例
S. Gunji et al., The development of gamma-ray burst polarimeter for a small satellite., SPIE, 9144, 176 (2014), doi:10.1117/12.2054708 : 検出器実験の例

Last updated: 2023-4-18

BL-14A： 単結晶構造解析／検出器開発ステーション