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BL-14A: 単結晶構造解析/検出器開発ステーション

概要

ビームライン群  第2分科(回折・散乱)
主な手法
  • X線回折
  • 波高分光・エネルギー走査や時間分光による検出器実験
特徴
  • 垂直ウィグラーからの縦偏光X線を利用して、垂直(ω-2θ)回転軸の水平型四軸X線回折計による精密電子密度分布測定が可能。
  • 30~80keVの高エネルギーX線領域や19keVまでの集光X線ビームを利用するX線検出器の特性評価と開発研究を実施。
主な研究分野
  • 四軸X線回折計とAPD検出器・多重回折回避ソフトウェアによる無機結晶などの精密構造解析
  • X線天文学・放射光実験などのためのX線検出器の評価および開発
担当者
  • 佐賀山 基 hajime.sagayama★kek.jp
  • 代理者(FY2022まで):岸本 俊二 syunji.kishimoto★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • ハイブリッドモード運転によるパルスX線時間構造を利用する研究が可能。希望する場合は、課題申請時にその旨を記載してください。

スペック

光源
  • 垂直ウィグラー
光学系
  • 二結晶モノクロメータ(Si(111)、(311)、(553)切替)
  • 集光ミラー(円筒湾曲1m・Rhコート:Si(111)選択時。集光固定で運用)
エネルギー範囲
  • Si111 : 5.1-18.5 keV
  • Si311 : 9.9-35.4 keV
  • Si553 : 23.0-82.7 keV
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 〜2 × 10-4 (Si111)
ビームサイズ
  • (H) 2x (V) 1 mm以下(ミラー使用時)
  • (H) 5x (V) 35 mm(max.)
ビーム強度
  • 1 × 1011 photons/s・mm2 (Si111+ミラー, max.)
公開している装置
  • 水平型4軸X線回折計および8ch積層型APD検出器
  • 検出器実験用自動ステージ等、光学部品各種
検出器
  • 8チャンネル積層型(45°配置)APD検出器
リモート/メールイン測定
  • 不可
特記事項
  • 検出器開発実験時の装置設置は回折計架台上の光学ベンチ(長さ50cm)上、または回折計架台下流の床上(ビーム軸方向:~1m)で行う。

詳しい情報

  • ビームライン制御操作マニュアルあり。ユーザーに限定して公開。

参考文献

  1. Y. Satow and Y. Iitaka, Rev. Sci Instrum., 60, 2390 (1989), doi:10.1063/1.1140728 : ビームライン
  2. S. Kishimoto, N. Ishizawa and T. P. Vaalsta, Rev. Sci Instrum., 68, 384 (1998), doi:10.1063/1.1148670 : APD検出器
  3. T. Sakakura et al., Determination of the Local Structure of a Cage with an Oxygen Ion in Ca12Al14O33., Acta Cryst., B67, 193 (2011), doi:10.1107/S0108768111005179 : 回折計実験の例
  4. S. Gunji et al., The development of gamma-ray burst polarimeter for a small satellite., SPIE, 9144, 176 (2014), doi:10.1117/12.2054708 : 検出器実験の例

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-14Aの成果)

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Last updated: 2021-9-16