BL-14B：精密Ｘ線光学ステーション

ビームライン群	第６分科（X線光学・イメージング）
主な手法	X線透過・吸収・屈折・回折・反射等
特徴	垂直ウィグラーからの垂直偏光Ｘ線と常設の垂直軸超精密回折計を利用することで、偏光による強度の損失を被ることなく、水平面内に複結晶光学系を比較的容易に組み立てることができます。精密なＸ線光学実験や回折実験等を行うのに適しています。
主な研究分野	X線光学 X線イメージング結晶工学
担当者	平野馨一 keiichi.hirano★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	ユーザーが専用の光学系を組み立てて実験を行うことができます。事前に担当者にご相談ください。

光源	垂直ウィグラー
光学系	定位置出射型二結晶分光器 [Si(111)]
エネルギー範囲	１次光使用： 9 ～ 20 keV ３次光使用： 27 ～ 60 keV
エネルギー分解能（ΔE/E）	〜3 × 10^-3
ビームサイズ	約 10 mm (W) x 約 15 mm (H)
ビーム強度	〜10¹⁴ photons/s/mm²/mrad²/0.1% b.w.
公開している装置	光学定盤垂直軸超精密回折計２台垂直回転軸のθ-2θ回折計１台
検出器	PIN検出器イオンチャンバーシンチレーションカウンター X線カメラ
リモート／メールイン測定	不可
特記事項	X線カメラを使用するには事前予約が必要です。使用を希望する方は担当者までご連絡ください。ビームライン平面図