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BL-14C: X線イメージングおよび汎用X線実験ステーション

概要

ビームライン群  第6分科(X線光学・イメージング)
主な手法
  • X線透過・吸収・散乱・回折・干渉・反射等
特徴
  • 垂直ウィグラーからの垂直偏光X線(単色・白色)を利用することができます。
  • 実験ハッチは上流部C1と下流部C2から成っています。C1ではユーザーが自由に専用の光学系を組み立てて実験を行うことができます。C2には分離型X線干渉計が常設されており、超高感度な位相イメージング実験が行われています。
主な研究分野
  • 医学
  • 材料科学
  • X線光学
担当者
  • 平野 馨一 keiichi.hirano★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • 上流のC1ではユーザーが専用の光学系を組み立てて実験を行うことができます。事前に担当者にご相談ください。

スペック

光源
  • 垂直ウィグラー
光学系
  • 定位置出射型二結晶分光器 [Si(220)]
エネルギー範囲
  • 単色モード: 12 ~ 66 keV
  • 白色モード
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 〜3 × 10-3
ビームサイズ
  • 白色X線:約40mm(縦)× 約8mm(横)
  • 単色X線:約40mm(縦)× 約8mm(横)
ビーム強度
  • 〜1014 photons/s/mm2/mrad2/0.1% b.w.
公開している装置
  • 分離型X線干渉計(C2)
  • 光学定盤(C1)
  • 垂直軸精密回折計 2台
検出器
  • PIN検出器
  • イオンチャンバー
  • シンチレーションカウンター
  • X線カメラ
リモート/メールイン測定
  • 不可
特記事項
  • X線カメラを使用するには事前予約が必要です。使用を希望する方は担当者までご連絡ください。
ビームライン平面図

詳しい情報

参考文献

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-14Cの成果)

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Last updated: 2021-9-13