BL-14C： X線イメージングおよび汎用X線実験ステーション

ビームライン群	第６分科（X線光学・イメージング）
主な手法	X線透過・吸収・散乱・回折・干渉・反射等
特徴	垂直ウィグラーからの垂直偏光X線（単色・白色）を利用することができます。実験ハッチは上流部C1と下流部C2から成っています。C1ではユーザーが自由に専用の光学系を組み立てて実験を行うことができます。C2には分離型X線干渉計が常設されており、超高感度な位相イメージング実験が行われています。
主な研究分野	医学材料科学 X線光学
担当者	杉山　弘 hiroshi.sugiyama★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	上流のC1ではユーザーが専用の光学系を組み立てて実験を行うことができます。事前に担当者にご相談ください。

光源	垂直ウィグラー
光学系	定位置出射型二結晶分光器 [Si(220)]
エネルギー範囲	単色モード： 12 ～ 66 keV 白色モード
エネルギー分解能（ΔE/E）	〜3 × 10^-3
ビームサイズ	白色Ｘ線：約40mm（縦）× 約8mm（横）単色Ｘ線：約40mm（縦）× 約8mm（横）
ビーム強度	〜10¹⁴ photons/s/mm²/mrad²/0.1% b.w.
公開している装置	分離型X線干渉計（C2）光学定盤（C1）垂直軸精密回折計２台
検出器	PIN検出器イオンチャンバーシンチレーションカウンター X線カメラ
リモート／メールイン測定	不可
特記事項	X線カメラを使用するには事前予約が必要です。使用を希望する方は担当者までご連絡ください。ビームライン平面図

Last updated: 2024-10-03