BL-15A1： XAFS（セミマイクロビーム）ステーション

ビームライン群	第３分科（Ｘ線吸収分光）
主な手法	XAFS（X線吸収分光法）単色X線利用実験＜要事前相談＞
特徴	硬X線XAFS実験用の実験ステーションです。アンジュレータ光源の高輝度マイクロビームによるマッピング実験などが行えます。蛍光分析用のSDDやX線回折測定用の二次元検出器を備え、様々な分析が行えます。
主な研究分野	材料化学材料工学地球惑星科学生物科学　　など
担当者	主担当者：丹羽尉博 yasuhiro.niwa★kek.jp 副担当者：仁谷浩明 hiroaki.nitani★kek.jp 副担当者：阿部仁 hitoshi.abe★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	XAFS実験以外での利用は、課題申請前に担当者にご相談ください。課題採択後にビームタイムを要求するには、実験計画書を提出する必要があります。詳しくはPFXAFS websiteでご確認ください。

光源	2.5GeV PFリング真空封止型短周期アンジュレーター（SGU#15）周期長 17.6 mm, 周期数 27 水平取り込み角 0.2 mrad
光学系	計算結合駆動型液体窒素冷却二結晶分光器[Si(111)] QXAFS対応水平平行化用湾曲ミラー（Rhコーティング）水平集光用ダブル16素子バイモルフミラー（Rhコーティング）鉛直集光用湾曲ミラー（Rhコーティング）高調波抑制用ダブル平板ミラー（Niコーティング）：使用時のみ挿入
エネルギー範囲	2.1 〜 23 keV
エネルギー分解能（ΔE/E）	〜2 × 10^-4
ビームサイズ	0.02 mm (H) x 0.02 mm (V)
ビーム強度	3.5 × 10¹¹ photons/s（7.5 keV）
公開している装置	標準XAFS測定装置（透過法、蛍光法） Quick Scan XAFS測定装置 XRD測定用ゴニオメータ
検出器	電離箱 (1 cm、5 cm、17 cm、31cm) ライトル検出器シリコンドリフト検出器 PILATUS 100k検出器
リモート／メールイン測定	可（詳細はPF-XAFS メールイン代行測定をご覧ください）
特記事項	持ち込み装置：可（詳細は担当者にご相談ください）実験ハッチのサイズ 3.2 m (L) x 4.0 m (W) x 3.0 m (H) 実験ハッチ扉のサイズ 2.0 m (W) x 2.4 m (H) 実験定盤のサイズ 1200 mm (L) x 800 mm (W) 電気（最大 20A x2系統）および各種高圧ガス使用可能通常は室温、大気圧下での実験となります。

N. Igarashi et al., J. Phys.: Conf. Ser., 425, 072016 (2013), doi:10.1088/1742-6596/425/7/072016
XAFS実験ステーション利用の手引き, M. Nomura, KEK Internal 2001-5.

Last updated: 2022-1-5