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BL-15A1: XAFS(セミマイクロビーム)ステーション

概要

ビームライン群  第3分科(X線吸収分光)
主な手法
  • XAFS(X線吸収分光法)
  • 単色X線利用実験<要事前相談>
特徴
  • 硬X線XAFS実験用の実験ステーションです。
  • アンジュレータ光源の高輝度マイクロビームによるマッピング実験などが行えます。
  • 蛍光分析用のSDDやX線回折測定用の二次元検出器を備え、様々な分析が行えます。
主な研究分野
  • 材料化学
  • 材料工学
  • 地球惑星科学
  • 生物科学  など
担当者
  • 主担当者:武市 泰男 yasuo.takeichi★kek.jp
  • 副担当者:仁谷 浩明 hiroaki.nitani★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • XAFS実験以外での利用は、課題申請前に担当者にご相談ください。
  • 課題採択後にビームタイムを要求するには、実験計画書を提出する必要があります。詳しくはPFXAFS websiteでご確認ください。

スペック

光源
  • 2.5GeV PFリング 真空封止型短周期アンジュレーター(SGU#15)
  • 周期長 17.6 mm, 周期数 27
  • 水平取り込み角 0.2 mrad
光学系
  • 計算結合駆動型液体窒素冷却二結晶分光器[Si(111)] QXAFS対応
  • 水平平行化用湾曲ミラー(Rhコーティング)
  • 水平集光用ダブル16素子バイモルフミラー(Rhコーティング)
  • 鉛直集光用湾曲ミラー(Rhコーティング)
  • 高調波抑制用ダブル平板ミラー(Niコーティング):使用時のみ挿入
エネルギー範囲
  • 2.1 〜 23 keV
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 〜2 × 10-4
ビームサイズ
  • 0.02 mm (H) x 0.02 mm (V)
ビーム強度
  • 3.5 × 1011 photons/s(7.5 keV)
公開している装置
  • 標準XAFS測定装置(透過法、蛍光法)
  • Quick Scan XAFS測定装置
  • XRD測定用ゴニオメータ
検出器
  • 電離箱 (1 cm、5 cm、17 cm、31cm)
  • ライトル検出器
  • シリコンドリフト検出器
  • PILATUS 100k検出器
リモート/メールイン測定
特記事項
  • 持ち込み装置:可(詳細は担当者にご相談ください)
  • 実験ハッチのサイズ 3.2 m (L) x 4.0 m (W) x 3.0 m (H)
  • 実験ハッチ扉のサイズ 2.0 m (W) x 2.4 m (H)
  • 実験定盤のサイズ 1200 mm (L) x 800 mm (W)
  • 電気(最大 20A x2系統)および各種高圧ガス使用可能
  • 通常は室温、大気圧下での実験となります。

詳しい情報

参考文献

  1. N. Igarashi et al., J. Phys.: Conf. Ser., 425, 072016 (2013), doi:10.1088/1742-6596/425/7/072016
  2. XAFS実験ステーション利用の手引き, M. Nomura, KEK Internal 2001-5.

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-15A1の成果)

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Last updated: 2021-8-24