BL-19A/B： 軟X線顕微・分光実験ステーション

概要

ビームライン群	第１分科（軟Ｘ線顕微鏡）
主な手法	走査型透過X線顕微鏡（STXM） 軟X線分光
特徴	走査型透過X線顕微鏡 (STXM) 常設のAブランチと、フリーポートのBブランチ、２ブランチの利用が可能です。 軟X線領域で垂直/水平直線, 左右円/楕円偏光が利用可能です。 軟X線吸収分光測定装置が利用できます。 フリーポートに持ち込み装置を設置して実験できます。
主な研究分野	樹脂材料 隕石, 鉱物, 環境試料 磁性材料（偏光利用） 触媒, 電池
担当者	山下 翔平 shohei.yamashita★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	［以下、詳しくは担当者にご相談ください］ A、Bブランチともに大気非暴露環境での測定が可能です。 Aブランチ（STXM）では透過法のほか、蛍光収量法、転換電子収量法による測定が可能です Bブランチでは透過法、蛍光収量法、全電子収量法による軟X線吸収分光（XAS）測定が可能です。 リモート操作による測定が可能です。

スペック

光源	2.5GeV PFリング アンジュレーター (APPLE-II型)
光学系	Monk-Gillieson型不等刻線間隔平面回折格子分光器（回折格子刻線：600, 1200 lines/mm）
エネルギー範囲	Aブランチ：160 - 1900 eV Bブランチ：90 - 2000 eV
エネルギー分解能	5000 程度（A, Bブランチ共通）
ビームサイズ	Bブランチ：200 μm (H) x 50 μm (V) 程度
ビーム強度	Bブランチ：2.4 × 1011 photons/s（@400 eV）
公開している装置	Aブランチ：走査型透過X線顕微鏡（STXM） 空間分解能 30 nm程度 B, C, N, O, F, Na, Mg, Al, Si (以上K端), S, Cl, K, Ca, 3d遷移金属 (以上L端), 4f希土類 (M端)の吸収端が利用できます。 Bブランチ：軟X線吸収分光（XAS）測定装置
検出器	全電子収量（試料電流）、蛍光 (シリコンドリフト検出器)、透過 (フォトダイオード) 用検出器
リモート／メールイン測定	可（担当者にご相談ください）
特記事項	Bブランチのフリーポートでの設置可能装置サイズ：1600 × 2000 mm

詳しい情報

• ユーザー向けのホームページ

参考文献

1. S. Sasaki et al., Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res., A331, 763 (1993), doi: 10.1016/0168-9002(93)90153-9 : APPLE-II型アンジュレーター
2. K. Amemiya and T. Ohta, J. Synchrotron Rad., 11, 171 (2004), doi:10.1107/S0909049503023598 : Monk-Gillieson型不等刻線間隔平面回折格子分光器
3. Y. Takeichi et al., Rev. Sci. Instrum., 87, 013704 (2016), doi:10.1063/1.4940409 : 走査型透過X線顕微鏡(STXM)

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース（BL-19A/Bの成果）

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Last updated: 2023-3-24