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BL-19A/B: 軟X線顕微・分光実験ステーション

概要

ビームライン群  第1分科(軟X線顕微鏡)
主な手法
  • 走査型透過X線顕微鏡(STXM)
  • 軟X線分光
特徴
  • 走査型透過X線顕微鏡 (STXM) 常設のAブランチと、フリーポートのBブランチ、2ブランチの利用が可能です。
  • 軟X線領域で垂直/水平直線, 左右円/楕円偏光が利用可能です。
  • 軟X線吸収分光測定装置が利用できます。
  • フリーポートに持ち込み装置を設置して実験できます。
主な研究分野
  • 樹脂材料
  • 隕石, 鉱物, 環境試料
  • 磁性材料(偏光利用)
  • 触媒, 電池
担当者
  • 山下 翔平 shohei.yamashita★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考 [以下、担当者にご相談ください]
  • 大気非暴露環境でのSTXM測定が可能です。
  • リモート操作によるSTXM測定が可能です。

スペック

光源
  • 2.5GeV PFリング アンジュレーター (APPLE-II型)
光学系
  • Monk-Gillieson型不等刻線間隔平面回折格子分光器(回折格子刻線:600, 1200 lines/mm)
エネルギー範囲
  • Aブランチ:160 - 1900 eV
  • Bブランチ:90 - 2000 eV
エネルギー分解能
  • 5000 程度(A, Bブランチ共通)
ビームサイズ
  • Bブランチ:200 μm (H) x 50 μm (V) 程度
ビーム強度
  • Bブランチ:2.4 × 1011 photons/s(@400 eV)
公開している装置
  • Aブランチ:走査型透過X線顕微鏡(STXM)
    空間分解能 30 nm程度
    B, C, N, O, F, Na, Mg, Al, Si (以上K端), S, Cl, K, Ca, 3d遷移金属 (以上L端), 4f希土類 (M端)の吸収端が利用できます。
  • Bブランチ:軟X線吸収分光(XAS)測定装置
検出器
  • 全電子収量(試料電流)、蛍光 (シリコンドリフト検出器)、透過 (フォトダイオード) 用検出器
リモート/メールイン測定
  • 可(担当者にご相談ください)
特記事項
  • Bブランチのフリーポートでの設置可能装置サイズ:1600 × 2000 mm

詳しい情報

参考文献

  1. S. Sasaki et al., Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res., A331, 763 (1993), doi: 10.1016/0168-9002(93)90153-9 : APPLE-II型アンジュレーター
  2. K. Amemiya and T. Ohta, J. Synchrotron Rad., 11, 171 (2004), doi:10.1107/S0909049503023598 : Monk-Gillieson型不等刻線間隔平面回折格子分光器
  3. Y. Takeichi et al., Rev. Sci. Instrum., 87, 013704 (2016), doi:10.1063/1.4940409 : 走査型透過X線顕微鏡(STXM)

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-19A/Bの成果)

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Last updated: 2021-9-9