BL-28A/B：可変偏光高分解能角度分解光電子分光実験ステーション | 放射光実験施設 - KEK IMSS PF

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お知らせ

2026/10/15：NEW! BL-28A: DA30光電子分光アナライザーのMCPアセンブリユニットが，第2期から新しくなりました。MCP前のメッシュがないタイプで，Fixモードで測定してもメッシュ像は出ません。

概要

ビームライン群	第１分科（光電子分光）
主な手法	角度分解光電子分光（ARPES）
特徴	30ー300 eVで左右円偏光、垂直・水平直線偏光が利用可能。 Aブランチはマイクロ集光した放射光ビームを用いた高分解能ARPES実験を高スループットで実施可能。 Bブランチはフリーポートで、持ち込み装置を設置して実験可能。
主な研究分野	表面科学固体物理学
担当者	小澤健一 kenichi.ozawa★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	新規課題申請の際には事前に担当者までご相談ください。

スペック

光源	2.5GeV PFリングアンジュレーター（６列型）
光学系	可変偏角不等間隔平面回折格子分光器後置鏡：Aブランチ　Kirkpatrick-Baez (K-B) 集光鏡　　　　Bブランチ　トロイダル集光鏡 Aブランチの光学系。Bブランチには、水平スリットの下流に設置した平面ミラーで光を導入。
エネルギー範囲	30–300 eV
エネルギー分解能	E/ΔE > 20000 エネルギー分解能
ビームサイズ	Aブランチ：12 (V) x 10 (H) μm Bブランチ：40 (V) x 100 (H) μm
ビーム強度	10¹¹ - 10¹² photons/s 最高分解能のときのビーム強度
公開している装置	Aブランチ：マイクロARPESシステム Aブランチ：グローブボックス，試料搬送ベッセル
検出器	Aブランチ：Omicron-Scienta DA30
リモート／メールイン測定	可
特記事項

参考文献

K. Tsuchiya et al., AIP Conf. Proc., 1741, 020023 (2016), doi:10.1063/1.4952802 : [Elliptically-polarizing undulator]
M. Kitamura et al., Rev. Sci. Instrum., 93, 033906 (2022), doi:10.1063/5.0074393 : [Micro-focusing of the beam by the K-B mirror]
M. Kitamura et al., J. Phys.: Conf. Ser., 3010, 012149 (2025), doi:10.1088/1742-6596/3010/1/012149 : [UHV sample transfer system]

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース（BL-28A/Bの成果）

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Last updated: 2026-10-15

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