BL-4B2： 高分解能粉末Ｘ線回折ステーション

概要

ビームライン群	第２分科（回折・散乱）
主な手法	高分解能粉末Ｘ線回折 大気環境下高温測定
特徴	アナライザー・シンチレーションカウンターにより高角度分解の粉末Ｘ線回折データ（反射法、透過法）が測定できます。 大気環境下1500℃の高温測定（反射法）ができます。
主な研究分野	セラミックス、鉱物、電池材料、医薬品原薬試料 MEM・Rietveld解析、回折ピークの高精度測定
運営形態	ユーザーグループ運営ステーション（粉末回折UG）
担当者	PF担当者：中尾 裕則 hironori.nakao★kek.jp 粉末回折UG代表：植草 秀裕 uekusa★chem.titech.ac.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	初めて使うユーザーはUGがサポートしますのでUG代表にご相談下さい。

スペック

光源	2.5GeV PFリング 偏向電磁石(B04)
光学系	二結晶モノクロメーター [Si(111)] Rhコート　Si単結晶疑似トロイダルミラー
エネルギー範囲	6〜20 keV（1.8〜0.7 Å）
エネルギー分解能（ΔE/E）	約 2 × 10-4
ビームサイズ	13 mm (H) x 2 mm (V)
ビーム強度
公開している装置	多連装検出器Ｘ線粉末回折装置（反射法・キャピラリ透過法） 大気環境下1500℃の高温炉
検出器	Ge(111)アナライザーモノクロ付きシンチレーションカウンター
リモート／メールイン測定
特記事項

詳しい情報

• 検出器多連装型軌道放射光粉末回折計 MDS について

参考文献

1. H. Toraya, H. Hibino and K. Ohsumi, J. Synchrotron Rad., 3, 75 (1996), doi:10.1107/S0909049595015500
2. T. Ida, H. Hibino and H. Toraya, J. Appl. Cryst., 34, 144 (2001), doi:10.1107/S0021889800021105
3. T. Ida and H. Hibino, J. Appl. Cryst., 39, 90 (2006), doi:10.1107/S0021889805040318
4. M. Yashima, M. Tanaka, K. Oh-uchi and T. Ida, J. Appl. Cryst., 38, 854 (2005), doi:10.1107/S0021889805020583
5. M. Yashima, K. Oh-uchi, M. Tanaka and T. Ida, J. Am. Ceram. Soc., 89, 1395 (2006), doi:10.1111/j.1551-2916.2005.00865.x

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース（BL-4B2の成果）

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Last updated: 2021-8-23