PhotonFactory

BL-4B2: 高分解能粉末X線回折ステーション

概要

ビームライン群  第2分科(回折・散乱)
主な手法
  • 高分解能粉末X線回折
  • 大気環境下高温測定
特徴
  • アナライザー・シンチレーションカウンターにより高角度分解の粉末X線回折データ(反射法、透過法)が測定できます。
  • 大気環境下1500℃の高温測定(反射法)ができます。
主な研究分野
  • セラミックス、鉱物、電池材料、医薬品原薬試料
  • MEM・Rietveld解析、回折ピークの高精度測定
運営形態
  • ユーザーグループ運営ステーション(粉末回折UG)
担当者
  • PF担当者:中尾 裕則 hironori.nakao★kek.jp
  • 粉末回折UG代表:植草 秀裕 uekusa★chem.titech.ac.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • 初めて使うユーザーはUGがサポートしますのでUG代表にご相談下さい。

スペック

光源
  • 2.5GeV PFリング 偏向電磁石(B04)
光学系
  • 二結晶モノクロメーター [Si(111)]
  • Rhコート Si単結晶疑似トロイダルミラー
エネルギー範囲
  • 6〜20 keV(1.8〜0.7 Å)
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 約 2 × 10-4
ビームサイズ
  • 13 mm (H) x 2 mm (V)
ビーム強度
公開している装置
  • 多連装検出器X線粉末回折装置(反射法・キャピラリ透過法)
  • 大気環境下1500℃の高温炉
検出器
  • Ge(111)アナライザーモノクロ付きシンチレーションカウンター
リモート/メールイン測定
特記事項

詳しい情報

参考文献

  1. H. Toraya, H. Hibino and K. Ohsumi, J. Synchrotron Rad., 3, 75 (1996), doi:10.1107/S0909049595015500
  2. T. Ida, H. Hibino and H. Toraya, J. Appl. Cryst., 34, 144 (2001), doi:10.1107/S0021889800021105
  3. T. Ida and H. Hibino, J. Appl. Cryst., 39, 90 (2006), doi:10.1107/S0021889805040318
  4. M. Yashima, M. Tanaka, K. Oh-uchi and T. Ida, J. Appl. Cryst., 38, 854 (2005), doi:10.1107/S0021889805020583
  5. M. Yashima, K. Oh-uchi, M. Tanaka and T. Ida, J. Am. Ceram. Soc., 89, 1395 (2006), doi:10.1111/j.1551-2916.2005.00865.x

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-4B2の成果)

プレスリリース・関連記事



Last updated: 2021-8-23