PF

BL-9A: XAFS(高強度)ステーション

概要

ビームライン群  第3分科(X線吸収分光)
主な手法
  • XAFS(X線吸収分光法)
  • 単色X線利用実験<要事前相談>
特徴
  • 硬X線XAFS実験用の実験ステーションです。
  • 2.1 keVからの低エネルギー域と高強度のX線が利用可能です。
  • 7素子シリコンドリフト検出器やクライオクーラーなどを備え、さまざまな試料環境での実験が可能です。
主な研究分野
  • 材料化学
  • 材料工学
  • 地球惑星科学
  • 生物科学  など
担当者
  • 主担当者:阿部 仁 hitoshi.abe★kek.jp
  • 副担当者:仁谷 浩明 hiroaki.nitani★kek.jp
  • 副担当者:丹羽 尉博 yasuhiro.niwa★kek.jp
  • 副担当者:松岡 亜衣 ai.kamijo★kek.jp
  • 主担当者:城戸 大貴 daiki.kido★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • XAFS実験以外での利用は、課題申請前に担当者にご相談ください。
  • 課題採択後にビームタイムを要求するには、実験計画書を提出する必要があります。詳しくはPFXAFS websiteでご確認ください。

スペック

光源
  • 2.5GeV PFリング 偏向電磁石(B09)
  • 水平取り込み角 3 mrad
光学系
  • カム駆動型水冷二結晶分光器[Si(111)] QXAFS対応
  • 平行化用湾曲円錐台ミラー(Rhコーティング)
  • 集光用湾曲円錐台ミラー(Rhコーティング)
  • 高調波抑制用ダブル平板ミラー(Niコーティング):使用時のみ挿入
エネルギー範囲
  • 2.1 〜 15 keV
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 〜2 × 10-4
ビームサイズ
  • 0.5 mm (H) x 0.3 mm (V)
ビーム強度
  • 硬X線モード:6 × 1011 photons/s(7 keV)
  • 軟X線モード:6 × 1010 photons/s(2.5 keV)
公開している装置
  • 標準XAFS測定装置(透過法、蛍光法)
  • SX-XAFS測定装置(転換電子収量法、蛍光法)
  • Quick Scan XAFS測定装置
検出器
  • 電離箱 (5 cm、17 cm、31cm)
  • ライトル検出器
  • 7素子シリコンドリフト検出器
リモート/メールイン測定
  • 不可
特記事項
  • 持ち込み装置:可(詳細は担当者にご相談ください)
  • 実験ハッチのサイズ 2.6 m (L) x 2.8 m (W) x 2.5 m (H)
  • 実験ハッチ扉のサイズ 1.88 m (W) x 2.39 m (H)
  • 実験定盤のサイズ 1500 mm (L) x 1000 mm (W)
  • 電気(最大 20A x2系統)および各種高圧ガス使用可能
  • 硬X線モードでは室温、大気圧下での実験となります。
  • 軟X線モードでは室温、1気圧Heガス中での実験となります。
  • 温度制御可能なクライオクーラーが設置されています(300 ~ 20K、真空槽)。

詳しい情報

参考文献

  1. M. Nomura and K. Koyama J. Synchrotron Rad., 6, 182 (1999), doi:10.1107/S0909049598016823
  2. M. Nomura and K. Koyama Nucl. Instrum. Meth., A 467-468, 733 (2001), doi:10.1016/S0168-9002(01)00482-X
  3. XAFS実験ステーション利用の手引き, M. Nomura, KEK Internal 2001-5.

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-9Aの成果)

プレスリリース・関連記事



Last updated: 2024-8-2