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AR-NW10A: XAFS(高エネルギー)ステーション

概要

ビームライン群  第3分科(X線吸収分光)
主な手法
  • XAFS(X線吸収分光法)
  • AXS(X線異常散乱法)<要事前相談>
  • 単色X線利用実験<要事前相談>
特徴
  • 硬X線XAFS実験用の実験ステーションです。
  • 6.5GeVのPF-ARを光源としているため、高エネルギー域での利用が可能です。
  • 21素子Ge-SSDやクライオクーラー、自動ガスフローin situ実験設備などを備え、さまざまな試料環境での実験が可能です。
主な研究分野
  • 材料化学
  • 材料工学
  • 地球惑星科学
  • 生物科学  など
担当者
  • 主担当者:仁谷 浩明 hiroaki.nitani★kek.jp
  • 副担当者:丹羽 尉博 yasuhiro.niwa★kek.jp
  • 副担当者:松岡 亜衣 ai.kamijo★kek.jp
  • 副担当者:阿部 仁 hitoshi.abe★kek.jp
  • 副担当者:武市 泰男 yasuo.takeichi★kek.jp
  • メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
  • XAFS実験以外での利用は、課題申請前に担当者にご相談ください。
  • 課題採択後にビームタイムを要求するには、実験計画書を提出する必要があります。詳しくはPFXAFS websiteでご確認ください。

スペック

光源
  • 6.5/5.0GeV PF-AR 偏向電磁石(NW10)
  • 水平取り込み角 1 mrad
光学系
  • カム駆動型水冷二結晶分光器[Si(311)] QXAFS対応
  • 集光用湾曲円筒ミラー(Ptコーティング)
  • 高調波抑制用ダブル平板ミラー(Rhコーティング):使用時のみ挿入
エネルギー範囲
  • 8 〜 42 keV
エネルギー分解能(ΔE/E)
  • 〜1 × 10-4
ビームサイズ
  • 1.7 mm (H) x 0.8 mm (V)
ビーム強度
  • 6 × 1010 photons/s(25 keV)
公開している装置
  • 標準XAFS測定装置(透過法、蛍光法)
  • Quick Scan XAFS測定装置
  • AXS測定用ゴニオメータ
検出器
  • 電離箱 (5 cm、17 cm、31cm)
  • ライトル検出器
  • 21素子Ge半導体検出器
リモート/メールイン測定
特記事項
  • 持ち込み装置:可(詳細は担当者にご相談ください)
  • 実験ハッチのサイズ 4.0 m (L) x 3.2 m (W) x 2.8 m (H)
  • 実験ハッチ扉のサイズ 2.64 m (W) x 2.4 m (H)
  • 実験定盤のサイズ 2000 mm (L) x 1200 mm (W)
  • 電気(最大 20A x2系統)および各種高圧ガス使用可能
  • 通常は室温、大気圧下での実験となります。
  • 温度制御可能なクライオクーラーが設置されています(300 ~ 20K、真空槽)。
  • 自動ガス混合装置と連動した電気炉によるin situ実験が可能です。

詳しい情報

参考文献

  1. M. Nomura et al., AIP Conf. Proc., 882, 896 (2007), doi: 10.1063/1.2644697
  2. XAFS実験ステーション利用の手引き, M. Nomura, KEK Internal 2001-5.

成果一覧

KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(AR-NW10Aの成果)

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Last updated: 2021-8-24