AR-NW2A：時間分解DXAFS／Ｘ線顕微鏡

ビームライン群	第３分科（Ｘ線吸収分光）
主な手法	時間分解XAFS（DXAFS）投影型２次元イメージングXAFS 単色／白色X線利用実験＜要事前相談＞
特徴	硬X線XAFS実験用の実験ステーションです。 6.5GeVのPF-ARに設置されたアンジュレータを光源としているため、高強度のX線が利用可能です。白色、単色、集光、非集光などユーザーのニーズに応じた光学系を利用頂けます（要事前相談）。ユーザー持ち込み装置での実験が可能です。例）X線顕微鏡（XAFS-CT）、X線回折、波長分散型X線CTR散乱、2元素DXAFS、VDXAFS
主な研究分野	材料化学材料工学地球惑星科学生物科学　　など
担当者	主担当者：丹羽尉博 yasuhiro.niwa★kek.jp 副担当者：阿部仁 hitoshi.abe★kek.jp 副担当者：森丈晴 takeharu.mori★kek.jp 副担当者：仁谷浩明 hiroaki.nitani★kek.jp 副担当者：城戸大貴 daiki.kido★kek.jp メールアドレスは★を＠に変えてご利用ください。
備考	課題申請の際には必ず事前に担当者にご相談ください。課題採択後にビームタイムを要求するには、実験計画書を提出する必要があります。詳しくはPFXAFS websiteでご確認ください。

光源	6.5/5.0GeV PF-AR アンジュレーター（ID2）周期長 40 mm, 周期数 90 取り込み角 1 mrad (H), 0.2 mrad (V)
光学系	計算結合駆動型液体窒素冷却二結晶分光器[Si(111)] 分光器を待避しての白色利用も可能集光用湾曲円筒ミラー（Rhコーティング）集光用湾曲平板ミラー（Rhコーティング）高調波抑制用ダブル湾曲ミラー（Rh／Niコーティング）
エネルギー範囲	5 〜 25 keV
エネルギー分解能（ΔE/E）	〜2 × 10^-4
ビームサイズ	円筒ミラー集光：0.6 mm (H) x 0.2 mm (V) 平板ミラー集光：10 mm (H) x 0.06 mm (V) 非集光：8 mm (H) x 3 mm (V)
ビーム強度	6 × 10¹² photons/s（12 keV）
公開している装置	標準XAFS測定装置（透過法、蛍光法） DXAFS測定装置投影型2次元イメージングXAFS装置（空間分解能<10μm）
検出器	電離箱 (5 cm、17 cm、31cm) ライトル検出器フォトダイオードアレイ（蛍光体付き）シリコンマイクロストリップ検出器 ORCA Flash 4.0
リモート／メールイン測定	不可
特記事項	持ち込み装置：可（詳細は担当者にご相談ください）実験ハッチのサイズ 3.0 m (L) x 3.8 m (W) x 3.0 m (H) 実験ハッチ扉のサイズ 2.6 m (W) x 2.4 m (H) 電気（最大 20A x2系統）および各種高圧ガス使用可能

T. Mori et al., AIP Conf. Proc., 705, 255 (2004), doi: 10.1063/1.1757782
H. Kawata et al., AIP Conf. Proc., 705, 663 (2004), doi: 10.1063/1.1757883
Y. Inada et al., AIP Conf. Proc., 879, 1230 (2007), doi: 10.1063/1.2436286
XAFS実験ステーション利用の手引き, M. Nomura, KEK Internal 2001-5.
Y. Niwa et al., AIP Conf. Proc., 2054, 050003 (2019), doi: 10.1063/1.5084621
M. Katayama et al., J. Synchrotron Radiat., 22, 1227 (2017), doi:10.1107/S1600577515012990
T. Shirasawa e-J. Surf. Sci. Nanotechnol., 17, 155 (2019), doi: 10.1380/ejssnt.2019.155
M. Katayama et al., Anal. Sci., 36, 47 (2020), doi: 10.2116/analsci.19SAP02

Last updated: 2024-8-2

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