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実験装置・施設
ビームライン
BL-16A: 高速可変偏光軟X線分光ステーション
BL-16A: 高速可変偏光軟X線分光ステーション
概要
ビームライン群
第1分科(軟X線吸収分光)
主な手法
軟X線磁気円二色性,線二色性
軟X線分光
特徴
軟X線領域で左右円偏光,垂直・水平直線偏光が利用可能です。
任意の2種類の偏光(左右円偏光など)の高速スイッチング(10 Hz)が利用可能です。
1.2および5 TのX線磁気円二色性測定装置が常設されています。
フリーポートに持ち込み装置を設置して実験できます。
主な研究分野
磁性薄膜
表面科学
固体物理学
担当者
雨宮 健太 kenta.amemiya★kek.jp
メールアドレスは★を@に変えてご利用ください。
備考
類似のエネルギー領域をカバーする他のビームライン(アンジュレータ:BL-2, 13, 19 偏向電磁石:BL-7A, 11A, 11D)との使い分けが有効なので,担当者にご相談ください。
スペック
光源
2.5GeV PFリング アンジュレーター (Twin APPLE-II)
光学系
可変偏角不等刻線間隔平面回折格子分光器
後置集光鏡(トロイダルミラー)
エネルギー範囲
主に400–1500 eV
エネルギー分解能(ΔE/E)
2 × 10
-4
程度(ビーム強度の項の図を参照)
ビームサイズ
200-500 μm (H) x 50-100 μm (V) 程度
ビーム強度
10
11
photons/s 程度
ある分解能(E/ΔE)における光子数の計算値。
公開している装置
軟X線磁気円二色性測定装置(1.2および5 T)
深さ分解軟X線吸収分光測定装置
検出器
試料電流,マイクロチャンネルプレート,シリコンドリフトディテクター,軟X線CCDカメラ(装置によって異なる)
リモート/メールイン測定
可
特記事項
試料サイズ:10 mm 角程度以下を推奨
持ち込み装置:可
ビーム高さ:床から〜1217 mm,真空度:<10
-4
Pa程度
実験エリアの平面図。
参考文献
K. Amemiya and T. Ohta,
J. Synchrotron Rad.,
11,
171 (2004),
doi:10.1107/S0909049503023598
:
[分光器]
K. Amemiya
et al., AIP Conf. Proc.,
1234,
295 (2010),
doi:10.1063/1.3463193
:
[ビームライン]
K. Tsuchiya
et al., J. Phys.: Conf. Ser.,
425,
132017 (2013),
doi:10.1088/1742-6596/425/13/132017
:
[偏光スイッチング(光源)]
K. Amemiya
et al., J. Phys.: Conf. Ser.,
425,
152015 (2013),
doi:10.1088/1742-6596/425/15/152015
:
[偏光スイッチング(ビームライン)]
K. Amemiya,
Phys. Chem. Chem. Phys.,
14,
10477 (2012),
doi:10.1039/C2CP41085K
:
[深さ分解軟X線吸収分光法]
M. Sakamaki and K. Amemiya,
Rev. Sci. Instrum.,
88,
083901 (2017),
doi:10.1063/1.4986146
:
[蛍光収量深さ分解軟X線吸収分光法]
成果一覧
KEK放射光共同利用実験研究成果データベース(BL-16Aの成果)
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