Ｘ線CTR散乱（X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering）は結晶の電子密度が表面で裁断されることで生じるロッド状のX線散乱であり、 散乱強度分布の解析によって表面界面の原子位置，熱的（または静的）な構造揺らぎ、占有率などの結晶学的パラメータが得られる。 伝統的には最適な構造モデルを試行錯誤的に見つけ出して、最小二乗法によって精密化する解析方法が用いられてきたが、 この方法だけで薄膜及び界面構造を解くのは難しい。 界面に特殊な構造や組成混合が有る場合にこれらを見つけ出すにはセンスがいるし、薄膜と界面に含まれるたくさんの結晶学的パラメータを 大域的最小値に落とし込むのは難しい。こうした背景から近年、CTR散乱データから直接的に薄膜界面構造を解く方法が展開されている。
本講演では、我々のグループで開発してきたホログラフィの原理に基づく界面原子像の再生法と、反復位相回復法による構造最適化について説明し、 応用例としてトポロジカル絶縁体界面の解析とこれにより明らかになった構造物性を紹介する。
