◆15-02 価電子1個を捉えるX線回折法の開発とYTiO₃の軌道秩序観測

• 日時：6/11（Thu.）15：30～
• 場所：4号館2階輪講室1（メイン会場）/東海1号館324室（TV会議）
• 講師：坂倉輝俊 氏（東北大学 多元物質科学研究所）
• 題名：価電子1個を捉えるX線回折法の開発とYTiO3の軌道秩序観測
• 英題:Development of X-Ray Diffraction Technique to Capture Even One Valence Electron and its Application to Orbitally Ordered YTiO₃
• 要旨:

  多重散乱を回避した高精度なX線回折測定法は価電子1個の空間分布を明瞭に捉える事を可能とする。例としてYTiO3における軌道秩序観測を紹介する。 また、このような高精度データが得られれば、実測から波動関数の結合係数等を定量的に決定する事も可能である。その技術開発についても紹介する。