◆18-01 200 kVクライオ電子顕微鏡での高分解能構造解析の考察

• 日時：071/24（Tue.）16：00～17:00
• 場所：研究本館会議室
• 講師：重松 秀樹 氏（理化学研究所 放射光科学研究センター・生物系ビームライン基盤G）
• 題名：200 kVクライオ電子顕微鏡での高分解能構造解析の考察。
• 英題：A Study on High-Resolution CryoEM Single Particle Analysis with 200 kV Microscope
• 要旨：日本国内でクライオ電子顕微鏡ネットワークの運用が始まり、ハイエンド 300 kVの共用に向けて200 kV電顕を使った試料の最適化が重要になっている。今回は、昨年得られた高分解能データをもとに、3 Aを超える分解能を得た解析結果について考察する。